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GB/T 2423.1-2008/IEC 60068-2-1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分詳細(xì)介紹

GB/T 2423.1-2008/IEC 60068-2-1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分

前? 言

GB/T 2423.1-2008/IEC 60068-2-1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 GB/T 2423.1是GB/T 2423棕準(zhǔn)的第1部分.GB/T 2423柝準(zhǔn)的俎成部分見賚料性附彖NA.本部分等同采用IEC 60068-2-1 ,2007《壞境斌驗第2-1 部分。試驗試驗 A:低溫)(英文版).本部分與IEC 60068-2-1 2007相比,主要做了下列蝓髯性修改s

-本部分的名稱改カ《屯工屯子戸品珎境式羲 第2部分。試殺方怯 武驗A;低溫》;“本杯準(zhǔn)”一同改カ“本部分”,

一 刪除了IEC 60068-2-1 2007前言;

-刪除了IEC60068-2-1,2007引言,將其內(nèi)容特化カ増加的賚料性附彖NB的內(nèi)容,一増加了 資料性附?!癎B/T 2423柝準(zhǔn)的組成部分”(見附彖NA)

一-増加了資料性附粂“試臉Ar低溫和試驗B。高溫的分炎代號小寫字母之甸的美系”(見附彖

NB) s

-劃除了第1章第1段中的“対于非敞熱試驗祥品,”I– -第1章中最后両段的內(nèi)容移到4.1中;

-4. 3柝題“非斂熱試驗祥品”改カ“非散熱試驗祥品的試臉”;

-6.2最后一段原文カ正文,本部分改カ注。

カ清晰起見,上述慘改已在正文相座位置加了腳注.

本部分代替GB/T 2423. 12001《屯工屯子*品壞境武驗第 2部分·試驗方法武驗 A;低溫》,與之相比,主要変化如下,

-刪除了試臉Aa,非散熱試驗祥品溫度突変的低溫式驗I-刪除了附彖A.附桑B、附彖C、附彖D、附彖E,

-増加了式驗Ae散熱試驗祥品溫度漸変的低溫試驗一試驗祥品在整↑武驗辻程通屯.本部分的附彖NA、附彖NBカ賚料性附彖.

本部分由全國屯工屯子品壞境條件與壞境試驗怺準(zhǔn)化技木委員會(SAC/TC 8)提出并日ロ.本部分由廣州屯器科學(xué)研究院負(fù)責(zé)起草。本部分主要起草人z張志勇.

本部分所代替柝準(zhǔn)的萬次版本爰布情況カ」

-GB/T 2423. 1一-1981、GB/T 2423. 1- -1989、GB/T 2423. l-2001.
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗
第2部分:試驗方法試驗 A:低溫

1范圍
GB/T2423的本部分規(guī)定的低溫試驗適用于非散熱和散熱試驗樣品。試驗Ab和試驗Ad與早期版本無實質(zhì)性的差異”,增加試驗Ae的目的主要是檢測那些要求在整個試驗過程包括降溫調(diào)節(jié)期間都要通電運行的設(shè)備。
本低溫試驗的目的僅限于用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運輸或貯存的能力。本低溫試驗不能用來評價試驗樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運行能力,在這種情況下,應(yīng)采用GB/T 2423. 22.
本低溫試驗方法細(xì)分為以下幾種:
-非散熱試驗樣品低溫試驗:●試驗Ab,溫度漸變。散熱試驗樣品低溫試驗:●試驗Ad,溫度漸變;
●試驗 Ae,溫度漸變,試驗樣品在整個試驗過程通電。
本部分給出的試驗方法通常用于試驗期間能達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗樣品.

2規(guī)范性引用文件
下列文件中的條款通過GB/T2423的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注期的引用文件 ,其最新版本適用于本部分。
GB/T 2421電工電子產(chǎn) 品環(huán)境試驗第1 部分:總則(GB/T 2421- -1999 ,idt IEC 60068-1:1988)GB/T 2422電工電子產(chǎn) 品環(huán)境試驗術(shù)語(GB/T 2422- 1995,eqv IEC 60068-5-2: 1990)
GB/T 2423.22電工電子產(chǎn) 品環(huán)境試驗第2 部分:試驗方法試驗N:溫度變化(GB/T 2423.22-2002 ,IEC 60068-2-14 :1984 ,IDT)
GB/T 2424.1電工電子產(chǎn) 品環(huán)境試驗高 溫低溫試驗導(dǎo)則(GB/T 2424. 1- -2005 , IEC 60068-3-1:1974 ,IDT)
GB/T 2424.1電工電子產(chǎn) 品環(huán)境試驗高 溫低溫試驗導(dǎo)則(GB/T 2424. 1- -2005, IEC 60068-3-1:1974,IDT)

GB/T 2424.5電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗溫 度試驗箱性能確認(rèn)(GB/T 2424. 5- 2006, IEC 60068-3-5:2001 ,IDT)

GB/T 2424. 7電工電子產(chǎn) 品環(huán)境試驗試驗 A和試驗B(帶負(fù)載)用溫度試驗箱的測量(GB/T 2424. 7- -2006 , IEC 60068-3-7: 2001 ,IDT)

IEC 60721(所有部分)環(huán)境條件分級

3術(shù)語和定義

GB/T 2422確立的以及下列術(shù)語和定義適用于本部分。

1) IEC 60068-2-1:2007原文在句前有“對于非散熱試驗樣品,”
3.1

工作空間低氣流速度low air velocity in the working space

指工作空間的調(diào)節(jié)氣流速度,能維持設(shè)定的條件,但也足夠低,以致試驗樣品上任意點的溫度不會由于空氣循環(huán)的影響而降低5 K以上(如果可能,不大于0.5 m/s)。3.2

工作空間高氣流速度high air velocity in the working space

指工作空間的調(diào)節(jié)氣流速度,為了維持設(shè)定的條件,同時使得試驗樣品上任意點的溫度由于空氣循環(huán)的影響而降低5 K以上。

4非散熱試驗樣品與敗熱試驗樣晶試驗方法應(yīng)用對比

4.1 總則

溫度試驗箱的制造和確認(rèn)按照GB/T 2424.5和GB/T 2424.7的規(guī)定進(jìn)行?!备邷睾偷蜏卦囼瀸?dǎo)則見GB/T 2424. 1,總則見GB/T 2421.”

只有在以下情況下,才認(rèn)為試驗樣品是做熱的:當(dāng)溫度達(dá)到穩(wěn)定時(見GB/T 2421中相應(yīng)內(nèi)容),在自由空氣的條件下(例如,低氣流速度循環(huán))測量的試驗樣品表面最熱點的溫度超過試驗樣品周圍空氣溫度5K以上。當(dāng)相關(guān)規(guī)范要求進(jìn)行貯存或運輸試驗.或未指定在試驗期間施加負(fù)載,低溫試驗Ab是適用的。

4.2工作空間是高 氣流速度或是低氣流速度的確定

在測量和試驗的標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境條件下(見GB/T 2421),以及氣流速度<0.2 m/s,按照待試驗的低溫條件下的規(guī)定給試驗樣品通電或加電氣負(fù)載.

當(dāng)試驗樣晶的溫度達(dá)到穩(wěn)定,應(yīng)使用合適的監(jiān)測裝暨測量試驗樣品上或其周圍若干個有代表性的位置的溫度。之后,每一個位置的溫開應(yīng)予以記錄。

開啟試驗箱的通風(fēng)裝量使空氣循環(huán).當(dāng)溫度達(dá)到穩(wěn)定時,重新測量上述位置處的溫度。如果此次測得的溫度與上次無空氣流動時測得的溫度相差超過5 K(或相關(guān)規(guī)范規(guī)定的其他值),應(yīng)在檢測報告中記錄這些溫度值,并且認(rèn)為該試驗箱具有高氣流速度循環(huán)。然后給試驗樣品斷電,并去掉任何負(fù)載條件.

4.3非 散熱試驗樣晶的試驗

在溫度漸變試驗Ab中,試驗樣品放入處于試驗室溫度的試驗箱中,然后慢慢降低試驗箱中溫度,防止由于溫度改變而對試驗樣品產(chǎn)生有害作用。建議采用高氣流速度循環(huán),因為這樣可以減少達(dá)到溫度穩(wěn)定所需要的時間。
4.4散熱試驗樣晶 的試驗”

試驗Ad和試驗Ae描述了散熱試驗樣品在低氣流速度循環(huán)下的試驗程序。這允許試驗樣品的局部發(fā)熱點在其內(nèi)部擴展的情況,類似于安裝后的產(chǎn)品在應(yīng)用中發(fā)生的情況。4.5溫度監(jiān)控

應(yīng)使用溫度傳感器來測量試驗箱里的空氣溫度,溫度傳感器的位置離試驗樣品的距高應(yīng)確保其受熱擴散的影響可忽略不計。應(yīng)適當(dāng)注意以避免熱輻射影響這些測量,更多信息見GB/T 2424. 5.4.6 包裝

對于貯存和運輸試驗,設(shè)備可以帶包裝進(jìn)行試驗。然而,由于本部分規(guī)定的低溫試驗是穩(wěn)態(tài)試驗,設(shè)備最終將穩(wěn)定在試驗箱溫度,所以,應(yīng)去掉包裝進(jìn)行試驗,除非相關(guān)規(guī)范要求帶包裝,或者發(fā)熱元件是

2)該段在IEC 60068-2-1 ,2007原文中位于第1章。3) 該段在IEC 6068-2-1 ,2007原文中位于第1章.4) TEC 60068-2-1:2007原文為“教勢試妝樣品”.
與包裝合為- -體的。4.7? 圖示
為了便于試驗方法的選擇,圖1給出了幾種不同試驗方法的圖示。

低溫試驗框圖

5試驗描述

5.1 總則

試驗Ab.試驗Ad和試驗Ae是相似的,差異見5.2.2.5.3.2和5.4.2,從第6章開始的其他部分是這些試驗共同的。試驗箱內(nèi)的溫度變化速率不應(yīng)超過1 K/min(不超過5 min時間的平均值)。相關(guān)規(guī)范應(yīng)規(guī)定試驗樣品試驗時的功能要求。

應(yīng)注意試驗樣品的任何冷卻裝置要符合相關(guān)規(guī)范的要求。5.2試驗 Ab:非散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗5.2.1目的

本試驗方法用來進(jìn)行非散熱試驗樣品的低溫試驗,試驗樣品在低溫條件下放置足夠長時間以達(dá)到溫度穩(wěn)定。5.2.2概述

將試驗樣品放人溫度為試驗室溫度的試驗箱中,然后將溫度調(diào)節(jié)到符合相關(guān)規(guī)范規(guī)定的嚴(yán)酷等級溫度。當(dāng)試驗樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定后,在該條件下暴露到規(guī)定的持續(xù)時間。對于試驗時需要通電運行的試驗樣品(即使它們不屬于散熱試驗樣品),應(yīng)在試驗樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定后通電,根據(jù)需要進(jìn)行功能檢測。這種情況下,可能還需要–段時間達(dá)到溫度穩(wěn)定,然后試驗樣品在該低溫條件下暴露到相關(guān)規(guī)范規(guī)定的持續(xù)時間.

試驗樣品通常在非工作狀態(tài)下進(jìn)行試驗.本試驗通常采用高氣流速度循環(huán)。

5.3試驗Ad:散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗一試驗樣品在溫度開始穩(wěn)定后通電5.3.1目的

本試驗方法用來進(jìn)行散熱試驗樣品的低溫試驗,試驗樣品在低溫條件下放置足夠長時間以達(dá)到溫度穩(wěn)定。

5.3.2概述

如果需要,可通過試驗確定試驗箱能否滿足低氣流速度的要求。將試驗樣品放人溫度為試驗室溫度的試驗箱中,然后將溫度調(diào)節(jié)到符合相關(guān)規(guī)范規(guī)定的嚴(yán)酷等級溫度。

給試驗樣品通電或加電負(fù)載,檢查試驗樣品以確定其功能是否符合相關(guān)規(guī)范的要求。試驗樣品應(yīng)按照相關(guān)規(guī)范規(guī)定的工作循環(huán)和負(fù)載條件(如可行時)處于運行狀態(tài).

當(dāng)試驗樣品的溫度達(dá)到穩(wěn)定后,在該條件下暴闢到相關(guān)規(guī)范規(guī)定的持續(xù)時間。本試驗通常采用低氣流速度循環(huán)。

5.4試驗Ae:散熱試驗樣晶溫度漸變的低溫試驗一試驗樣品在整個試驗過程通電
5.4.1 目的

本試驗方法用來進(jìn)行傲熱試驗樣品的低溫試驗,試驗樣品在低溫條件下放置足夠長時間以達(dá)到溫度穩(wěn)定,并且要求試驗樣品在整個試驗過程中通電.
5.4.2概述

如果衢要,可通過試驗確定試驗籍能否滿足低氣流速度的要求。將試驗樣品放人溫度為試驗室溫度的試驗箱中,給試驗樣品通電并根據(jù)需要進(jìn)行功能檢測(見5.4. 3)。

然后將溫度調(diào)節(jié)到符合相關(guān)規(guī)范規(guī)定的嚴(yán)酷等級溫度。當(dāng)試驗樣品的溫度達(dá)到穩(wěn)定后,在該條件下暴露到規(guī)定的持續(xù)時間。

本試驗通常采用低氣流速度循環(huán).
5.4.3給試驗樣 品通電

然后給試驗樣品通電或加電負(fù)載,檢查試驗樣品以確定其功能是否符合相關(guān)規(guī)范的要求。試驗樣品應(yīng)按照相關(guān)規(guī)范規(guī)定的工作循環(huán)和負(fù)載條件(如可行時)處于運行狀態(tài)。

6試驗程序

6.1性能確認(rèn)

GB/T2424.5給出了溫度試驗箱的性能確認(rèn)指南。GB/T2424.1給出了試驗A和試驗B的一般操作指南.

與散熱試驗樣品的尺寸和數(shù)量相比,試驗箱應(yīng)該足夠大。
6.2工作空間

試驗樣品應(yīng)能完全容納人試驗箱的工作空間內(nèi)。

穩(wěn)定狀態(tài)時,流向試驗樣品的空氣溫度應(yīng)處于試驗嚴(yán)酷等級溫度的土2 K范圍內(nèi)。工作空間的空氣溫度應(yīng)按照4.5來測量。

注:當(dāng)由于試驗箱尺寸的原因,不能維持上述容差時,容差可以放寬,試驗溫度大于等于-25 C時為土3 K:試驗

溫度大于等于-65 C,但小于-25 C為士5K.當(dāng)采用了上述容差,則應(yīng)在試驗報告中指明.”
6.3 熱輻射

應(yīng)盡可能限制試驗樣品通過熱輻射方式傳熱的能力,這通常是采取遮擋試驗樣品的發(fā)熱或冷卻元件,以及確保構(gòu)成試驗籍內(nèi)壁各部件的溫度與調(diào)節(jié)空氣的溫度無明顯差異的方式來實現(xiàn)。6.4帶人工冷卻裝 的試驗樣品

相關(guān)規(guī)范應(yīng)規(guī)定試驗樣品的冷卻介質(zhì)的特性。當(dāng)冷卻介質(zhì)是空氣時,應(yīng)注意使空氣不受到污染,并保持足夠干燥,避免潮濕方面的問題。
6.5 安裝

試驗樣品安裝和連接時的熱傳導(dǎo)和其他相關(guān)特性應(yīng)在有關(guān)規(guī)范中規(guī)定。當(dāng)試驗樣品使用時是安裝在特定的裝置中時,在試驗時應(yīng)使用這些裝置.
6.6尸酷等級
相美規(guī)范座規(guī)定由溫度和式驗持綾吋同表示的試驗門酷等級,戸酷等級座:a) 從6.6.1和6.6.2所給的數(shù)値中迭取;
b)從已知的珎境得出,如果垓壞境給出星著差昇的數(shù)値;)引自其他知名的相美數(shù)據(jù)源(例如IEC 60721).
6.6.1溫度
-65C·
-55C。
-50C。
-40C。
-33C。
-25c。
-20C
-10C
-5C·
+5C
6.6.2持縷肘 囘
· 2h
· 16h
·72h。
96h
當(dāng)本試驗方法結(jié)合耐久性和可靠性相美的試驗使用吋,座注意相美柝準(zhǔn)或規(guī)范給出的美于此奬試驗持綾吋同的特定建爻。
6.7預(yù)処理
預(yù)理按相美規(guī)范的要求迸行。
6.8朷姶橙測
試驗祥品的初始狀恣可通辻目祝橙査和(或)按相美規(guī)范要求迸行功能栓渕荻得.

6.9條件試驗

試驗樣品應(yīng)按相關(guān)規(guī)范的詳細(xì)規(guī)定在低溫條件下暴露至規(guī)定的持續(xù)時間。

對于試驗樣品不能達(dá)到溫度穩(wěn)定的例外情況,試驗持續(xù)時間是從試驗樣品通電時開始計算的。典型地,這種情況是由那些具有長時間工作循環(huán)的樣品引起的。6.10 中間檢測

相關(guān)規(guī)范可能要求在條件試驗中間或條件試驗結(jié)束時(試驗樣品仍在試驗箱中)進(jìn)行加負(fù)載和(或)測量。如果要求進(jìn)行這種測量,相關(guān)規(guī)范應(yīng)對這種測量的內(nèi)容及時間間隔進(jìn)行規(guī)定。對于這種測量,試驗樣品不應(yīng)移出試驗箱。

注:如果要求知道某種試驗樣品在規(guī)定的試驗持續(xù)時間結(jié)束之前的性能,應(yīng)該為每-不同的試驗持續(xù)時間準(zhǔn)備一

個單獨批次的試驗樣品。每-批次的樣品應(yīng)單獨進(jìn)行恢復(fù)和最后檢測..6.11 最后的線性升溫

如果試驗樣品在試驗期間保持在運行狀態(tài)或負(fù)載條件下,應(yīng)在溫度上升前斷電或卸掉負(fù)載,但試驗Ae除外,因為該試驗要求試驗樣品在整個恢復(fù)期間保持通電運行狀態(tài)。

當(dāng)規(guī)定的試驗持續(xù)期結(jié)束時,試驗樣品應(yīng)保持在試驗箱內(nèi),然后將溫度慢饅升至試驗標(biāo)準(zhǔn)條件的溫度偏差范圍內(nèi)。試驗箱內(nèi)的溫度變化應(yīng)不超過1 K/ min(不超過5 min時間的平均值)。

6.12 恢夐

武驗祥品虛在拭臉箱內(nèi)経辻佚夏辻程或其他合透辻程.座采取臺透的歩驤按要求去除水滴,井不攪審試驗祥品.

試驗禪品在株準(zhǔn)壞境條件下迸行恢夏,恢夏吋同虛足使溫度込到穏定,至少1 h.如果相美規(guī)苞要求,試驗祥品座在恢夏期同達(dá)綾通屯或加載并測暈.

如果,上述棕準(zhǔn)條件不透合待橙渕的試驗祥品,相美規(guī)范可要求其他的恢夏條件.
6.13 最后檢測
應(yīng)對試臉祥品逃行目視橙査以及相美規(guī)菟要求的性能橙酬。

7相美規(guī)苑座蛤出的信息

當(dāng)相美規(guī)萢包含式驗A,低溫吋,虛蛤出下列透用項目的錮芍·
a) 武驗美型,
b)預(yù)赴理↓
c)初始橙測↓
d)安裝和支擇的詳細(xì)措述↓
e) 試臉祥品(包含冷卻系続〉在條件試驗朔同的狀志,
f)嚴(yán)酷等級,即溫度和試致持鍵吋伺
g) 溫度変化速率,
h) 條件試臉期甸的測量和(或)加負(fù)載ii)恢夏(如果是非杯準(zhǔn)條件〉,
j〉 最后檢測;
k) 供需雙方同意的対試臉程序的任何偏寓II〉不能茯得 低氣流速度肘(見4. 2)的溫度差昇.
8試驗搬告中虛始出的信息
試臉扱告中虛至少給出下列信息·
a)客戸(名稱和地址〉·
b〉橙渕実驗室(名稱和地址 ,如果有,胚包括合格人可的佯細(xì)信息)
c) 柆測日朔
d)試驗類型(Ab,Ad,Ae)
e) 試驗?zāi)康?開發(fā)、質(zhì)量鑒定等)1
d)試驗標(biāo)準(zhǔn),版本(注 日期對本部分的引用),
g)相關(guān)試驗 室檢測程序(代號和發(fā)行號);
h)試驗樣 品描述(工程圖、照片、數(shù)量、結(jié)構(gòu)、狀態(tài)等);
i)試驗箱 標(biāo)識(制造商.型號、唯一性標(biāo)識符等)
j) 試驗箱的性能(設(shè)定溫度點控制、氣流等);
k)氣流速度和方向(流向試驗樣品的空氣流速和方向);
1)測量系統(tǒng)的不確定度;
m)校準(zhǔn)日 期(最近- -次校準(zhǔn)和下- -次應(yīng)校準(zhǔn)的日期):n)初始、 中間和最后檢測;
o)要求的嚴(yán)酷等級(從試驗 規(guī)范中);
p)試驗的嚴(yán)酷 等級(測量點、數(shù)據(jù)等);
q)試驗樣品的性能(功能檢測的結(jié)果等);
r)試驗 期間的觀察結(jié)果及采取的措施;
s)試驗 總結(jié);
t)? 分發(fā)。

版權(quán)信息轉(zhuǎn)摘或復(fù)制GB/T 2423.1-2008/IEC 60068-2-1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分請遵守"署名-非商業(yè)用途"版權(quán)協(xié)議,GB/T 2423.1-2008/IEC 60068-2-1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分相關(guān)問題請咨詢銷售人員!
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